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亳州荧光量子产率检测仪公司来电洽谈「多图」

来源:景颐光电 更新时间:2024-05-02 10:57:23

以下是亳州荧光量子产率检测仪公司来电洽谈「多图」的详细介绍内容:

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IVL(电流-电压-亮度)的测量

除了可以实现对EQE测量外,针对电致发光器件的另一个重要性能电流-电压-亮度(IVL),我们的电致发光量子效率测量系统也可以提供一体化、自动化测量的方案。

电流参数(电流、电流密度等)随电压参数的变化曲线反映了器件的电学性质。亮度随电压参数的变化曲线反映了器件的光学性质。这类电学和光学参数之间的关系统称为IVL(电流-电压-亮度)关系,对于电致发光器件也非常重要。

通常情况下,IVL关系的测量需要多套电学测量系统和光学测量系统分别测量,测量全部的参数非常繁琐。通过软件整合电流源和光谱探测器的功能,我们提供的发光器件测量系统软件也可以测量电流、电流密度、电压、电流效率、功率效率、发射光谱、色度等一系列参数,并且逐一对应,形成关系曲线,将测量操作化繁为简。

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21世纪初,美国NIST研制了一台高精度的荧光光谱仪器,荧光的测量进入了精密测量的阶段。随着技术的发展,出现了几种较为便捷的量子产率测试方法。这些方法的仪器装置各有不同,测量结果的准确性也不同。加拿大国家计量局采用标准光谱辐射计校正入射光光谱功率分布,结合标准探测器和标准物质进行量子产率测试。该方法精度很高,但装置复杂,无法大规模普及应用。积分球技术的引入,再结合激发光谱和发射光谱的双光谱法进行量子产率测量,这类方法[6-8]的出现有效降低测量装置的复杂性,为量子产率测试仪器的普及提供了一定的理论依据。

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光谱校正

由于受到光源、单色器和探测器等的光谱特性的影响,由仪器直接记录的荧光光谱并不是所测量物质的真实光谱,这样的光谱被称为未校正光谱,这种光谱的形状和发射峰位置等与真实光谱都有一定的区别。在对物质进行荧光量子产率测量时,就必须对所使用的荧光分光光度计仪器进行光谱校正,获取物质的真实光谱,才能得出准确的荧光量子产率[10]。

本系统采用罗丹明B量子计数器和标准钨灯光源两种方式,对荧光分光光度计进行光谱校正。

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以上信息由专业从事荧光量子产率检测仪公司的景颐光电于2024/5/2 10:57:23发布

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广州景颐光电科技有限公司
主营:透过率检测仪,光纤光谱仪,反射率测试仪,光谱分析仪,积分球

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